J200飛秒激光剝蝕進樣系統

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J200飛秒激光剝蝕進樣系統用戶在樣品圖像上可任意編輯激光采樣模式，包括光柵線狀、曲線、隨機點、任意尺寸網格或預先編制的模式， 長激光脈沖系統產生的樣品顆粒大（常大于數微米），駐留在輸送管中，導致運輸效率低

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J200飛秒激光剝蝕進樣系統用戶在樣品圖像上可任意編輯激光采樣模式，包括光柵線狀、曲線、隨機點、任意尺寸網格或預先編制的模式， 長激光脈沖系統產生的樣品顆粒大（常大于數微米），駐留在輸送管中，導致運輸效率低，并且降低了分析的靈敏度，用戶可*依靠J200系統輸送高質量的樣品顆粒到ICP-MS系統，用戶簡單、方便地操作硬件部件。只需簡單點擊tab鍵，用戶即可檢查飛秒激光、氣流系統、光模塊、3-D操作臺、自動高度調節傳感器、樣品室等部件的工作狀態。

設備特點：
1、系統還可以對植物葉片進行深度的分析；
2、可編制成組，自動順序執行，使測量工作高度自動化；
3、用戶在樣品圖像上可任意編輯激光采樣模式；
4、自動高度調節傳感器、樣品室等部件的工作狀態；
5、用戶可將多個硬件部件運行命令集合，并按時間順序排列；
6、易瀏覽不同的樣品區域，設立靈活的采樣方式；
7、連續可調光學衰減器，集成激光能量監測單元。

J200飛秒激光剝蝕進樣系統是ASI公司的技術團隊擁有30多年激光剝蝕技術的基礎研究經驗和LA-ICP-MS方法的研究背景，系統通過非熱過程，施加超高激光輻射剝蝕樣品，產生的顆粒能在ICP源*消解，確保在測量過程中獲取高精度、穩定的元素或同位素信號，J200LA-fs剝蝕均勻一致，剝蝕的樣品顆粒能代表樣品的化學特性，無需高度匹配的標準物質，也能進行高精度、定量LA-ICP-MS測量。